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光功率探测驱动 (XQ3320)
XQ3320主要用于探测400-2600nm的激光功率的电路板。电路采用双核的CPU结构以及双路16位的AD转换测量，使光功率的探测具有很好的高速响应性、稳定性及准确性。电路板硬件设计采用宽动态范围设计，测量范围可达80dB，用户可通过更换探测PD类型，测量不同种类的激光，并且可通过软件进行校准设置，使测量数据准确可靠。软件上还支持RS232通讯，控制切换各种系统菜单和实时反馈测量数据，非常适合客户用于测试等系统集成中。
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工作参数 |
单位 |
指标规格 |
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探测器类型 |
- |
InGaAs/Si |
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通道数 |
个 |
1~2 |
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波长响应范围 |
nm |
400-2600 |
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测量范围 |
dB |
80 |
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线性度 |
dB |
±0.02 |
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准确性 |
dB |
±0.02 |
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重复性 |
dB |
±0.01 |
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分辨率 |
dB |
0.001 |
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控制方式 |
- |
按键/RS232/GPIB |
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显示方式 |
- |
显示屏、电脑软件 |
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工作温度 |
0-40℃ |
0-40℃ |
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供电电源 |
- |
DC5V/15A（Max） |
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PCB尺寸 |
mm |
240*60*1.6 |